产品详情
Langer无源近场探头组LF1
品牌：Langer EMV-Technik
型号：LF1
无源LF1近场探头组（100KHz-50MHz）
Sets
LF1 set, 近场探头组（100KHz-50MHz）介绍：
Langer无源近场探头组LF1包含4个屏蔽无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头，可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R 400从远距离探测模块的干扰发射情况，接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更精确的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。
这些近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗。
Langer LF1近场探头组配置:
1x LF-R 400, 磁场探头（100 KHz - 50 MHz)
1x LF-B 3, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x LF-U 2.5, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x LF-U 5, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x SMB-BNC 1 m, SMB-BNC 测量电缆
1xCase 4+(175 x 140x 35) mm
简短的介绍
LF-R 400型磁场探头，因其直径（25mm）较大而具有很高的灵敏度，适合测量10cm范围以内的集成电路板和设备。
LF-B3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
LF-U2.5型磁场探头是一个近场探头，适用于选择性检测导线、SMD元件和集成电路引脚中的高频电流。这个探头顶端有一个约0.5mm宽的磁场敏感缺口。
品牌：Langer EMV-Technik
型号：LF1
无源LF1近场探头组（100KHz-50MHz）
Sets
LF1 set, 近场探头组（100KHz-50MHz）介绍：
Langer无源近场探头组LF1包含4个屏蔽无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头，可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R 400从远距离探测模块的干扰发射情况，接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更精确的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。
这些近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗。
Langer LF1近场探头组配置:
1x LF-R 400, 磁场探头（100 KHz - 50 MHz)
1x LF-B 3, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x LF-U 2.5, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x LF-U 5, 磁场探头（100KHz-50MHz）
1x SMB-BNC 1 m, SMB-BNC 测量电缆
1xCase 4+(175 x 140x 35) mm
简短的介绍
LF-R 400型磁场探头，因其直径（25mm）较大而具有很高的灵敏度，适合测量10cm范围以内的集成电路板和设备。
LF-B3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
LF-U2.5型磁场探头是一个近场探头，适用于选择性检测导线、SMD元件和集成电路引脚中的高频电流。这个探头顶端有一个约0.5mm宽的磁场敏感缺口。
LF-U5型磁场探头特别适合于检测宽的导线、电缆、端口、电子元件及其连接件处等产生的磁场。这种磁场探头的工作方式类似于电流钳。
