产品详情
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603-1/P750
品牌：Langer EMV-Technik
型号：P603-1/P750
基于IEC61967-4标准的传导发射测量
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603-1/P750介绍：
该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。
该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。
使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603-1/P750配置:
1x P603-1, 1Ω高频电流表 SMA
1x P750, 150Ω高频电压表
1x CS-ESA, ESA芯片扫描软件
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1x NT FRI EU
1x P603 / P750 case, System case
1x P603-1 / P750 m, SMA
简短的介绍：
P603-1 1Ω高频电流表 SMA：探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频（RF）电流，主要用于接地引脚（Vss）和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点，可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。
P750 150Ω高频电压表：P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。
品牌：Langer EMV-Technik
型号：P603-1/P750
基于IEC61967-4标准的传导发射测量
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603-1/P750介绍：
该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。
该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。
使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603-1/P750配置:
1x P603-1, 1Ω高频电流表 SMA
1x P750, 150Ω高频电压表
1x CS-ESA, ESA芯片扫描软件
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1x NT FRI EU
1x P603 / P750 case, System case
1x P603-1 / P750 m, SMA
简短的介绍：
P603-1 1Ω高频电流表 SMA：探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频（RF）电流，主要用于接地引脚（Vss）和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点，可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。
P750 150Ω高频电压表：P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。
CS-ESA：ESA芯片扫描软件用于遥控频谱分析仪，存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。
