产品详情
| 产品参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | Partulab佰力博 | ||
| 电源 | 直流 | ||
| 重量 | 68kg | ||
| 净重 | 65kg | ||
| 噪音 | 低 | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 产地 | 湖北 | ||
| 电压 | 220V | ||
| 适用范围 | 实验室 | ||
| 产品认证 | ROHS | ||
| 工作电压 | 50V | ||
| 测量温度 | RT-1000℃ | ||
| 测量精度 | 0.5℃ | ||
| 测量功能 | 泄漏电流、体电阻率、I-V曲线 | ||
| 电阻率范围 | 1000~1E16Ω.cm | ||
| 可售卖地 | 全国 | ||
| 用途 | 新材料电学检测 | ||
| 类型 | 材料电学表征测量仪器 | ||
RMS-1000系列
电阻率测量系统
BALAB RMS-1000C系列导电材料电阻率测量系统主要用于导电材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于碳系导电材料、金属系导电材料、金属氧化物系导电材料、结构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。
BALAB RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsAl、GaAsP，固溶体半导体，如Ge-Si、GaAs-GaP等的块体材料的电阻率测量
BALAB RMS-1000I系列高温绝缘材料电阻率测量系统主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并结合GB-T 10581-2006 绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法标准设计开发，可以直接测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变化的曲线，该系统已经在航天航空传感器领域得到很好的应用，是目前国内外绝缘材料高温电阻率测量优选系统，广泛应用于高校科研院所和企业单位材料的高温绝缘性能研究。
测量原理及方法
01?集成一体化设计
■?高温炉膛、测量夹具、测量软件集成于一体，测量精度高，仪器更加稳定且易维护；
■ 炉膛采用进口金属材料，耐高温、抗氧化，可实现多种环境下的电学测量；
■ 弹簧夹具采用半球状 平板状电极结构，让系统的重复性和稳定性更高；
■ 集成10.1”电容触摸宽屏，软件操作更加流畅，体验感更好；
■ 控温和测量采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是实际温度；
■ RMS系列采用RAM嵌入式开发平台，可以进行在线升级、远程协助及故障诊断；
02??多功能真空电学加热炉
????可实现高温、真空、气氛测量环境
■ 电动升降炉膛设计，操作简单，使用方便；
■ 高温炉膛采用进口纤维一体开模铸造而成，温度可达1100℃；
■ 炉膛内部配有超温报警电路，确保炉膛不易烧坏，采用先进工程塑料开模，外表美观；
■ 采用三段PID控温，实现不同温度区间的控温，控温精度达到±0.5℃
■ 炉膛升温故障诊断监控设计，随时监测炉膛运行情况；
03经典直排四探针设计
???特殊半球状针尖、避免薄膜样品损坏
■ 可以测量半导体薄膜和薄片材料的方块电阻、电阻率；
■ 双电测组合测量，消除探针和样品的自身影响；
■ 可以自动调节施加在样品的测试电压，以防样品击穿；
■ 耐高温四探针夹具，碳化钨探针，99氧化铝陶瓷绝缘；
■ 系统自带温度校准功能，让测量温度尽可能与样品实际温度保持一致。
04?自主研发薄膜电学测试
■ 集成一体化设计，触摸屏控制和显示，具有很好的易用性；
■ 可以实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能；
■ 可以通过输入样品的面积和厚度，软件自动计算样品的电阻率pv；
■ 可以分析电阻率pv与温度T的变化曲线；
■ 可以通过USB传输数据，数据格式为Excel格式
