产品详情
| 产品参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 美国Foresite | ||
| 可售地区 | 全国 | ||
| 萃取方式 | 去离子水蒸汽萃取 | ||
| 发货地 | 广东深圳 | ||
| C-3测试元件操作 | for IC( 离子浓度色谱分析仪) | ||
| 测试物 | 各式电子产品之正负离子残留值 | ||
| 萃取面积 | 0.1in2 | ||
| 检测报告 | 提供专业的检测报告 | ||
| 测试方式 | 电气测试 | ||
| 检测方式 | IPC TM 650.2.3.28 | ||
| 使用水 | DI水（蒸汽） | ||
| 判定结果 | 清洁”或“污染” | ||
| 组装后的板面积 | 增加10 | ||
| C3局部萃取法 | IPC-TM- 650 Standard 2 | ||
| 可售卖地 | 全国 | ||
| 型号 | C3 | ||
FORESITE公司在美国是具有有影响力的性的专业级之检测实验室，它可提供以下专业的检测测试。
测试各式电子产品之正负离子残留值，并提供专业的检测报告。
检测方式：IPC TM 650.2.3.28 (Ionic Analysis of circuit boards,ion chrom atography b)
C3用途
Monitoring tool for production floor
Focus on sensitive area of concern (0.1 in2)
聚焦在问题的萃取面积为0.1in2
Perbs electrical test and gives immediate ‘clean’ or ‘dirty’ reading based on Foresite recommended limits for ionic contamination
进行电气测试并在Foresite建议的离子污染限值基础上给予“清洁”或“污染”的清洁度判定结果
Localized extrb b for Ion Chromatography
Extracts sample from localized testing area using deionized steam
使用去离子水蒸汽萃取局部测试区的样品
Samples can be shipped to a lab for Ion Chromatography analysis
萃取后的样品直接进行IC分析
C-3测试元件操作：for IC( 离子浓度色谱分析仪)
Localized Extrb by C3 & Test per IPC-TM- 650 Standard 2.3.28
C3局部萃取法IPC-TM- 650 Standard 2.3.28
Uses D.I. Water (Steam) 使用DI水（蒸汽）
Dilution factor for I.C. is based on Cell Aperture (0.1in2)
IC的稀释因子取决于测试头的孔径(0.1in2)
Dilution factor is (2.2mL / 0.1in2 = 22)
稀释因子计算公式是 (2.2ml/0.1in2=22)
For Populated Boards add 10 (2.2mL / 0.11in2 = 20)
对于组装后的板面积需要增加10（2.2ml/0.11in2=20)
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