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产品详情
| 产品参数 | |||
|---|---|---|---|
| IC元件金相切片金相显微镜JX22/JX23-RT 品牌 | 正业 | ||
| 操作方式 | 遥杆控制 | ||
| 测量行程 | 未知mm | ||
| 可售卖地 | 全国 | ||
| 型号 | JX22/JX23-RT | ||
IC元件金相切片金相显微镜JX22/JX23-RT
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用途：
该仪器适用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。
特征：
1、合理优化光路设计，保证成像效果；
2、 自主开发软件，并可根据客户的要求定制软件功能；
3、软件易学易用，可轻松实现点到点、线到线、圆弧、半径、直径、
角度等条件的测量与分析。
技术参数：
项目 型号
| JX22
| JX23-RT
|
显微镜主体
| 正置
| 正置
|
光学放大倍率
| 50×～600×
| 50×～500×（1000X可选）
|
电子放大倍率
| 90×～1150×
| 90×～900×
|
目镜（大视野）
| 10×
| 10×
|
物镜（平场消色差）
| 5×、10×、40×、60×
| 5×、10×、20×、50×(100x可选)
|
暗场
| 无
| 有（可测量绿油）
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照明系统
| 落射照明6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器
| 落射照明12V100W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器
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CCD型号
| WD-300C
| WD-300C2/TCC-2.0CL
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CCD摄像机
| 300万像素
| 300万像素
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测量精度
| ±0.0006mm
| ±0.0006mm
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特色功能
| 金属晶粒度测试
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