产品详情
<\/a><\/a><\/a><\/a><\/a>瑞典<\/b>XCounter<\/b>双能光子计数<\/b>X<\/b>射线探测器<\/b>XC-FLITE X<\/b>系列<\/b><\/b> <\/p> 小平板探测器，直接成像探测器，<\/b>MINI<\/b>平板，<\/b>CdTe-CMOS<\/b>传感器，光子计数探测器，双能光子计数<\/b>X<\/b>射线探测器，<\/b>X<\/b>射线探测器，<\/b>CMOS<\/b>传感器，线阵探测器，线阵探测器，平板探测器，微型平板探测器<\/b><\/b> <\/p> <\/b> <\/p> 成像有效面积<\/b> X1=15<\/b>×<\/b>15cm<\/b><\/b> <\/p> X2=30<\/b>×<\/b>30cm<\/b><\/b> <\/p> X3=45<\/b>×<\/b>45cm<\/b><\/b> <\/p> <\/a> <\/p> 产品描述<\/b><\/b> <\/p> <\/a><\/a>XC-FLITE X1<\/span>、X2<\/span>、X3<\/span>是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X<\/span>射线探测器，用于数字X<\/span>射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS<\/span>传感器平台研发而成，XC-FLITE X<\/span>系列适用于潜在宽泛的能量范围。<\/p> <\/span> <\/p> XC-FLITE X<\/span>系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS<\/span>）模式，扫描速度**90mm<\/span>/s<\/span>。<\/span> <\/p> <\/span> <\/p> 引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X<\/span>系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。 <\/span> <\/p> <\/span> <\/p> 所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X<\/span>系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。<\/span> <\/p> <\/b> <\/p> <\/a>集成<\/b><\/b> <\/p> XC-FLITE X<\/span>系列，通过GigE<\/span>接口将XC-FLITE X<\/span>系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X<\/span>的功能；可用在Windows XP<\/span>、Vista<\/span>、 Windows7<\/span>和Windows8<\/span>系统平台<\/p> <\/a>应用<\/b><\/b> <\/p> <\/a><\/a>*<\/span>小范围辐照 <\/span> <\/p> *<\/span>小动物成像<\/span> <\/p> *<\/span>实验室样品和标本成像 <\/span> <\/p> *<\/span>工业检测（NDT<\/span>）<\/p> <\/a>特点<\/b>&<\/b>优势<\/b><\/b> <\/p> *<\/span>三种尺寸可选<\/span> <\/p> *CdTe-CMOS<\/span>传感器，高品质成像<\/span> <\/p> *<\/span>自扫描设计，透明可见<\/span> <\/p> *<\/span>双能采集，具有材料区分能力<\/span> <\/p> *<\/span>反符合技术**的能量分辨率<\/span> <\/p> *<\/span>可基于帧率成像，也可以选择时间<\/a><\/a>延迟总和（TDS）模式<\/p> *<\/span>扫描速度**90mm<\/span>/s<\/span> <\/p> *<\/span>兼容Windows<\/span>操作系统，从XP<\/span>到<\/a><\/a>Windows8<\/span><\/span> <\/p>
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