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应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质 量管理到成本节约有着广泛的应用。 镀层测厚仪行业 用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。 镀层测厚仪技术参数 主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统zui多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078x0.055mm（使用0.025x0.05mm准直器） 在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38x0.42mm（使用0.3mm准直器） 样品室 －样品室结构开槽式样品室 －zui大样品台尺寸610mmx610mm －XY轴程控移动范围标准：152.4x177.8mm 还有5种规格任选 －Z轴程控移动高度43.18mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 －样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。） 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
http://www.ybzhan.cn/st20267/product_6199019.html
应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质 量管理到成本节约有着广泛的应用。 镀层测厚仪行业 用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。 镀层测厚仪技术参数 主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统zui多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078x0.055mm（使用0.025x0.05mm准直器） 在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38x0.42mm（使用0.3mm准直器） 样品室 －样品室结构开槽式样品室 －zui大样品台尺寸610mmx610mm －XY轴程控移动范围标准：152.4x177.8mm 还有5种规格任选 －Z轴程控移动高度43.18mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 －样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。） 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
SRP-4面铜探头
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