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光学元件外观缺陷检测仪
光学元件外观缺陷检测仪，采用权值成像数据分析原理，用来检测光学元件的表面外观缺陷问题。测量时，将待测产品置于光学镜头下方，逐个采集每个产品表面的图像，并对图像进行连续的数字化处理分析，然后与预存的“标准”进行比较分析进而作出缺陷结论。
极高的性价比：
完全的自主知识产权大大提高了性价比，使客户不论在投资和管理上都能轻松的使用光学元件外观缺陷检测仪。
强大的检测能力：
采用自主开发的操作软件，配合高像素彩色摄像机和特殊的光源设置，能够检测包括划痕、脏污、印子等各种类型的表面缺陷，同时可达15微米/像素的高分辨率，完全适应任何元器件的检测。
强大的自动学习功能：
编程简单快捷，同时强大的自动学习功能，使各种规格、类型的器件都可以通过在器件轮毂处画框学习，电脑主板的编程时间为1.5-2小时，能很好的适应生产线的快速变化。
极高的易用性：
中英文界面可选，并配备学习导向，操作简单；另外只需要器件的XY坐标和电路板的出料单（BOM）或者贴片机导出文件就可以自动学习。
光学元件外观缺陷检测仪
判别方法：权值成像数据差异分析、彩色成像比对原理
检测内容：元件有无、偏斜、划痕、缺块、脏污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、错字、破损、划伤、灰尘、长度、宽度、角度、弧度等缺陷。
随着电子产品的日益复杂化和制造业的人工成本越来越高，提高生产率和自动化将是必然的趋势，能够提供化的技术和方案给客户对台州振皓的长远业务发展至关重要。
