产品详情
加工定制是
品牌泰迪
型号tds-40a
内箱材质sus#304镜面不锈钢板或亚光板
外箱材质sus#304雾面线条处理不锈钢或烤漆
温度控制方式原装日本“三菱”系列进口大屏lcd显示触控式温度控制器。
温度范围-60～＋150℃
工作室尺寸400×350×350mm
外形尺寸1380×1400×1800mm
规格tds-40a
展开
tds-40a集成电路板高低温试验箱/半导体低温试验箱
点我去除广告
电路板高低温试验箱 半导体低温试验箱分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
采用进的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式lcd人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠。中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲、冷热冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有p.l.c锁定处理，全部采用p.i.d自动演算控制,温度控制精度高。
电路板高低温试验箱 半导体低温试验箱技术参数：
温度范围：
高温区： 60℃～200℃
低温区：a/-10℃～-40℃,b/-10℃～-60℃,c/-10℃～-70℃
工作室：a/0℃～-40℃,b/-10℃～-55℃,c/-10℃～-65℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度：±3℃
温度恢复时间:3~5min
高温槽升温速度:平均约5℃/min
低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
高低温暴露时间:30min以上
高低温冲击试验箱︱高低温冲击试验机高低温转换时间：≤15秒
品牌泰迪
型号tds-40a
内箱材质sus#304镜面不锈钢板或亚光板
外箱材质sus#304雾面线条处理不锈钢或烤漆
温度控制方式原装日本“三菱”系列进口大屏lcd显示触控式温度控制器。
温度范围-60～＋150℃
工作室尺寸400×350×350mm
外形尺寸1380×1400×1800mm
规格tds-40a
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tds-40a集成电路板高低温试验箱/半导体低温试验箱
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电路板高低温试验箱 半导体低温试验箱分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
采用进的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式lcd人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠。中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲、冷热冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有p.l.c锁定处理，全部采用p.i.d自动演算控制,温度控制精度高。
电路板高低温试验箱 半导体低温试验箱技术参数：
温度范围：
高温区： 60℃～200℃
低温区：a/-10℃～-40℃,b/-10℃～-60℃,c/-10℃～-70℃
工作室：a/0℃～-40℃,b/-10℃～-55℃,c/-10℃～-65℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度：±3℃
温度恢复时间:3~5min
高温槽升温速度:平均约5℃/min
低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
高低温暴露时间:30min以上
高低温冲击试验箱︱高低温冲击试验机高低温转换时间：≤15秒
