主营产品：半导体分立器件测试，光耦测试设备，宽禁带半导体测试
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| 详细参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型号 | BW-UIS-3500 |
| 类型 | 综合参数测试仪 | 测量范围 | 0.30～3.60kA |
| 精确度 | 分辨率0.01kA,精度,3%,0.01kA | 加工定制 | 是 |
| 外形尺寸 | 其他 | 产地 | 西安 |
BW-UIS-3500
雪崩耐量测试系统
技术指标：
> 浪涌电流（IFSM/ITSM）调节范围：0.30～3.60kA
> 分辨率0.01kA，精度±3%±0.01kA
> 电流波形：正弦半波，底宽10ms
> 测试频率：单次
> 反向电压（VRRM）调节范围：0.20～2.00kV，分辨率0.01kV，精度±5％
> 反向电压测试频率：50Hz；
> 反漏电流（IRRM）测试范围；1.0～100.0mA，分辨率0.1mA，精度±5％±0.1mA
工作方式：
> 由触摸液晶屏设定浪涌电流大小、反向电压值及反向漏电流保护值
> 按测试按键后设备自动完成测试
外形尺寸：
> 600×800×1900×1（宽×深×高×并柜数，单位：mm）
系统说明：
> 上述设备配置输出及测试线,但不含测试用“夹具”。该“夹具”用于满足元件按照标准进行测试时所要求的温度和压力测试条件。
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