产品详情
三维扫描仪抄数机逆向工程仪器设备主要应用在三维扫描、三维抄数、实物建模、逆向工程、尺寸对比检测
系统介绍
XTOM-ET工业级高精度三维扫描仪（抄数机）基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到工业实物逆向建模及尺寸对比检测的需要，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。
应用方向
行业
汽车行业、航空航天、机械制造、文物修复、家具制造、医疗保健等
逆向设计
快速获取被测物体表面三维数据，建立物体三维模型，优化产品设计/还原设计图
产品检测
检测范围包括：产品点、线、面之间角度、距离、对称度及位置度等关系：对比标准共建或设计图分析产品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：对比产品使用前后数据分析产品使用损耗，分析产品性能及寿命等。可检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等。
技术参数
常规标准型
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型号 |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
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测量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
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相机像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
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测量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
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采样点距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
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标准测距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
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扫描时间(s) |
2~4 |
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扫描光源 |
蓝/白 |
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拼接方式 |
标志点/特征/手动 |
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高端工业型
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型号 |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
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测量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
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相机像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
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测量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
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采样点距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
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标准测距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
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扫描时间(s) |
2~8 |
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扫描光源 |
蓝/白 |
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拼接方式 |
标志点/特征/手动 |
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备注：高端工业型CCD支持升级600万/900万，支持依据客户需求定制。
