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奥林巴斯BX53-P偏光显微镜专为高精度偏振光观测而开发，集成了UIS2无穷远校正光学系统与低应力光学元件，在工业材料分析领域展现出优异性能。该系统适用于晶体结构、复合材料、矿物薄片及其他各向异性样品的观察与定量评估。
其核心优势在于高度稳定的光学路径设计。UIS2架构在引入检偏器、补偿器或波片等偏振组件时，仍能维持成像质量不衰减，并有效避免因附加元件引起的放大倍率偏差。这一特性保障了从常规观测到复杂干涉图分析过程中的一致性与准确性。同时，系统兼容BX3系列中间附件及各类工业相机与数字成像设备，便于无缝集成至自动化检测流程。
BX53-P配备可调焦Bertrand透镜，支持明场（orthoscopic）与锥光（conoscopic）模式快速切换，清晰呈现后焦面干涉图样。结合视场光阑优化，可稳定获取高对比度的锥光图像，满足对晶体取向与双折射特性的精细解析需求。
为提升测量灵活性，系统提供六种补偿器选项，延迟量程覆盖0至20λ（约11000 nm）。其中，Berek与Senarmont补偿器支持全视场内连续调节延迟值，适用于高对比成像与精确双折射量化；Brace-Koehler系列则针对微弱双折射信号提供亚纳米级灵敏度。配合546 nm干涉滤光片使用，可进一步提升测量重复性与精度。
机械结构方面，BX53-P搭载高精度旋转载物台，内置45°定位卡位及中心调节机构，确保样品旋转过程平稳精准。选配双机械移动平台后，可在X-Y方向实现微米级精确定位，适用于大面积样品的系统性扫描与比对分析。
凭借低应变物镜、模块化扩展能力与可靠的机械设计，BX53-P为材料科学、地质分析及先进制造领域提供了高效、精准的偏振光检测解决方案。
奥林巴斯光学显微镜：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/
产品链接：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/bx53-p/
